Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
1

A self-consistent characterization methodology for Schottky-barrier diodes and ohmic contacts

Рік:
1994
Мова:
english
Файл:
PDF, 927 KB
english, 1994
3

A new oxidation-resistant CoSi2 process for self-aligned silicidation (salicide) technology

Рік:
1993
Мова:
english
Файл:
PDF, 940 KB
english, 1993
4

Lateral titanium silicide growth and its suppression using the a-SiTi bilayer structure

Рік:
1995
Мова:
english
Файл:
PDF, 583 KB
english, 1995
5

The effects of impurity bands on the electrical characteristics of metal-semiconductor ohmic contacts

Рік:
1995
Мова:
english
Файл:
PDF, 659 KB
english, 1995